Heisenbergstr. 11, 48149 Münster, Sentrup, Nordrhein-Westfalen
nanoAnalytics GmbH, Münster
Öffnungszeiten
Jetzt geöffnet, Schließt in 2 Stunden
| Donnerstag | 08:00 - 17:00 |
| Freitag | 08:00 - 17:00 |
| Samstag | Geschlossen |
| Sonntag | Geschlossen |
| Montag | 08:00 - 17:00 |
| Dienstag | 08:00 - 17:00 |
| Mittwoch | 08:00 - 17:00 |
aktualisiert am 13.04.2026
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Beschreibung
Prüflabor für Oberflächenanalytik, Werkstoffanalysen und Schadensanalysen
Das Labor nanoAnalytics wurde bereits im Jahre 1999 gegründet und hat sich auf die Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen im Mikro- und Nanometerbereich spezialisiert.
Wir sind ein inhabergeführtes, unabhängiges Prüflabor in Privatbesitz. Unser Qualitätsmanagement arbeitet gemäß ISO 9001, und wir sind als Prüflabor nach ISO 17025 akkreditiert.
Unser interdisziplinäres Team zeichnet sich durch langjährige Erfahrung auf dem Gebiet der Oberflächenanalytik aus. Diese Erfahrung und modernste Analyseverfahren ermöglichen es uns für Sie die unterschiedlichsten Probensysteme zu analysieren.
Firmenbeschreibung
Für die Bearbeitung oberflächenanalytischer Fragestellungen werden von uns insbesondere folgende Methoden eingesetzt:
Prüflabor für Oberflächenanalytik, Werkstoffanalysen und Schadensanalysen
Das Labor nanoAnalytics wurde bereits im Jahre 1999 gegründet und hat sich auf die Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen im Mikro- und Nanometerbereich spezialisiert.
Wir sind ein inhabergeführtes, unabhängiges Prüflabor in Privatbesitz. Unser Qualitätsmanagement arbeitet gemäß ISO 9001, und wir sind als Prüflabor nach ISO 17025 akkreditiert.
Unser interdisziplinäres Team zeichnet sich durch langjährige Erfahrung auf dem Gebiet der Oberflächenanalytik aus. Diese Erfahrung und modernste Analyseverfahren ermöglichen es uns für Sie die unterschiedlichsten Probensysteme zu analysieren.
Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikrobereichsanalytik (REM / EDX)
Photoelektronenspektrometrie (XPS, ESCA)
Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Optische Profilometrie
Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS)
Infrarotspektroskopie (FTIR, ATR-FTIR)
Optische Mikroskopie (Fluoreszenz, Polarisation, DIC)
Ergänzend bieten wir auch folgende Analysetechniken an:
Semiautomatische Partikelanalyse
Augerelektronenspektroskopie und -mikroskopie (AES)
Kontaktwinkelmessungen
Nano– und Mikroindentation
Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
Glimmentladungsspektroskopie (GDOS)
Sekundärionen-Neutralteilchenmassenspektroskopie (SNMS)
Weitere Analysemethoden auf Anfrage...
Fremdsprachige Firmenbeschreibung
Analytical Services
nanoAnalytics was founded in 1999 as an independent testing laboratory focusing on characterization of surfaces from the centimeter to the nanometer scale. Our interdisciplinary team has an outstanding experience in the field of surface and nano analytics. Experience and most modern analytical techniques allow us to analyze a broad spectrum of sample systems.
Our focus is speed, quality, and competence!
High quality and competence
Our work was evaluated by an independent party. We are accredited as a testing lab according to ISO 17025 and our quality management system follows the requirements of ISO 9001.
Fast service
Normally we deliver our analysis results within 7 working days. If necessary we can provide an express service.
Our focus is to solve your questions
We work in close co-operation with our customers. We deliver not only analytical data but also an interpretation of the data. Personal contact and discussion of results is one of our guidelines.
Analytical techniques
We provide analytical services using the following techniques:
X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS, ESCA)
Scanning Electron Microscopy (SEM / EDS)
Atomic Force Microscopy (AFM)
Optical Profiler
Secondary Ion Mass Specrometry (SIMS)
Infrared Spectroscopy (FTIR, ATR-FTIR)
Optical Microscopy (Fluorescence, Polarisation, DIC)
Furthermore we offer the following techniques:
Auger Electron Spectroscopy and Microscopy (AES)
Contact Angle Measurement
Nano– and Microindentation
Transmission Electron Microscopy (TEM)
Glow Discharge Optical Spectroscopy (GDOS)
Sputtered neutral species mass spectroscopy (SNMS)
Other techniques on request.
Kategorie & Stichwörter
- Polarisation
- Dic
- Esca
- Kontaktwinkelmessung
- Optische Profilometrie
- Semiautomatische Partikelanalyse
- Photoelektronenspektrometrie XPS
- Rasterkraftmikroskopie Afm
- Sekundärionenmassenspektrometrie Sims
- Infrarotspektroskopie Ftir
- Atr-Ftir
- Optische Mikroskopie Fluoreszenz
- Ergänzend Bieten Wir auch Folgende Analysetechniken an
- Augerelektronenspektroskopie und -Mikroskopie Aes
- Transmissionselektronenmikroskopie Tem
- Glimmentladungsspektroskopie Gdos
- Sekundärionen-Neutralteilchenmassenspektroskopie SNMS
Wirtschaftsinfo
| PLZ | 48149 |
| Ort | Münster |
| Straßen | Heisenbergstr. 11 |
| Geschäftsname | nanoAnalytics GmbH |
| HR-Nr. | HRB 6051 |
| Amtsgericht | Münster |
| USt-IdNr. | DE-813181548 |
| Sitz | 48149, Münster |
| S.I.C | Prüflabors, Sonstige Meß- u. Regelgeräte, Labor-Analysegeräte |
| WZ2008 | Prüflabors, Messgeräte und Steuergeräte, Analyseinstrumente |
Tätigkeit
Prüflabor für Oberflächen-, Grenzflächen- und Mikrobereichsanalytik, Werkstoffanalysen und Schadensanalysen. Entwicklung, Produktion und Vermarktung innovativer Geräte aus dem Bereich der Mess- und Analysetechnik.
Fotos
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